X
تبلیغات
رایتل
 
دنیای فناوری


دنیای مجازی
پنج‌شنبه 10 تیر‌ماه سال 1389 :: 12:24 ب.ظ ::  نویسنده : محمدرضا گرامی

در‌ رؤیا مرز بین واقعیت و تخیل به اندازه یک پلک‌زدن است و اینچنین است که بیداری برابر است با پایان یک رویا. اما به لطف پیشرفت در تکنولوژی، تمامی مرزهای تخیل و واقعیت در حال شکسته شدن است. شاید در چند سال پیش تصور دیدن تصاویر تلویزیونی به‌صورت سه‌بعدی امری محال بود اما امروزه می‌توان این فناوری را در همه خانه‌ها به‌کار بست.



دوچشم انسان در فاصله‌ای بسیار کم از یکدیگر قرار دارند. فاصله اندک چشم‌ها باعث می‌شود که هر چشم تصویری با زاویه متفاوت‌تر از چشم دیگر از اشیای پیرامونمان را به مغز بفرستد. در مغز با ترکیب این تصاویر به اشیاء عمق داده می‌شود و اینگونه است که ما تصاویر را به‌صورت سه بعدی یعنی آن چیزی که همه ما توانایی دیدنش را داریم می‌بینیم.


این امر خصوصا در تخمین فاصله (یا همان عمق بخشیدن به تصاویر) اهمیت فوق‌العاده‌ای دارد بدین گونه که درصورت بسته بودن یک چشم امکان پردازش و تخمین فاصله اجسام برای مغز کاری دشوار خواهد شد.



دانشمندان به یاری رشد و پیشرفت در تکنولوژی از این موضوع استفاده بهینه‌ای کرده‌اند. اساس این تکنولوژی در نحوه فیلمبرداری یا ساخت برنامه‌های تلویزیونی، مسابقات ورزشی، فیلم‌ها و کارتون‌ها و بازی‌های رایانه‌ای است؛ به این نحو که تصاویر به وسیله دوربین‌های پیشرفته از زوایای متفاوت و بسیار نزدیک به هم گرفته می‌شوند. این تصاویر پس از ضبط و ارسال از طریق گیرنده‌هایی که مجهز به دریافت و پخش این تصاویر هستند پخش می‌شود.


ادامه مطلب ...
پنج‌شنبه 10 تیر‌ماه سال 1389 :: 12:20 ب.ظ ::  نویسنده : محمدرضا گرامی

ه‌همت محققان ایرانی و کره‌ای، خطاهای موجود در سامانه‌های نانومترولوژی و تداخل‌سنج‌های لیزری کاهش یافت و امکان دستیابی به دقت‌های پیکومتری در اندازه‌گیری جابه‌جایی در سامانه‌های نانومترولوژی فراهم شد.

نانومترولوژی، اندازه‌گیری ابعاد و جابه‌جایی مواد در مقیاس نانو است. اثرات غیرخطی از مهم‌ترین خطاهای موجود در سامانه‌های نانومترولوژی و تداخل‌سنج‌های لیزری است که می‌تواند با استفاده از ماتریس‌های جونز مدل‌سازی شود و با یک سامانه‌ی کامل اپتوالکترونیکی با لیزر سه مودی پایدار شده، مقدار خطای اندازه‌گیری به‌طور قابل ملاحظه‌ای کاهش یابد.


دکتر سعید علیایی، استادیار دانشگاه شهید رجایی، در گفتگو با بخش خبری سایت ستاد ویژه‌ی توسعه‌ی فناوری نانو، گفت: «پژوهشی را با همکاری پروفسور یوون ("Yoon") از دانشکده‌ی فیزیک دانشگاه کره‌ی جنوبی و آزمایشگاه ملی لیزر و خانم مهندس حامدی از دانشگاه شهید رجایی، با هدف مدل‌سازی خطای غیرخطی در سامانه‌های نانومترولوژی و کاهش خطا با ارایه‌ی یک سامانه‌ی کامل اپتوالکترونیکی شامل بخش‌های اپتیکی و الکترونیکی انجام دادیم و نتایج پژوهش را، در مجله‌ی IET Optoelectronics (جلد 3، صفحات224-215، سال 2009) منتشر نمودیم».

دکتر علیایی، در ادامه‌ی گفتگو افزود: «علاوه بر دقت بسیار بالا، سادگی بخش اپتیک و استفاده از مدارهای الکترونیک یکسان در بازوهای تداخل‌سنج لیزری از مزایای دیگر این طرح به‌شمار می‌آید».

وی در توضیح روش کار گفت: «در این پژوهش از یک لیزر پایدار شده‌ی سه مودی استفاده شده‌است که در اولین گام منجر به دو برابر شدن قابلیت تفکیک‌پذیری در سنجش و اندازه‌گیری جابه‌جایی نسبت به سامانه‌های متداول شده‌‌است. تداخل‌سنج لیزری موردنظر با استفاده از ماتریس‌های جونز، مدل‌سازی‌سازی شده و خطاهای مختلف آن از جمله انحراف قطبنده، نابرابری ضرایب عبور، بازتاب و انحراف در زاویه‌ی قرارگیری شکافنده- قطبنده نسبت به راستای لیزر، بیضوی بودن قطبش لیزر و عمود نبودن قطبش مودهای جانبی بر مود مرکزی در نمایه‌ی لیزر، با ماتریس‌های مختلف، مدل‌سازی و خطای غیرخطی متناوب دو، چهار و هشت دوره‌ای نهایی بیان شده‌است. سپس یک سامانه‌ی جدید به‌منظور کاهش خطاهای مرتبه‌ی مختلف پیشنهاد گردیده و نشان داده شده‌است که با استفاده از این سامانه، امکان کاهش خطای کل که ناشی از کمیات ذکر شده باشد، به کسری از نانومتر وجود دارد».

با استفاده از سامانه‌ی‌ طراحی شده در این کار پژوهشی، امکان دستیابی به دقت‌های پیکومتری در سنجش و اندازه‌گیری جابه‌جایی در سامانه‌های نانومترولوژی فراهم گردیده‌است.

این سامانه در صنایع نانومترولوژی، تهیه ماسک و فرایندهای فوتولیتوگرافی، ساخت ادوات نیم‌رسانا و در هر جایی که نیاز به اندازه‌گیری فاصله و یا جابه‌جایی با دقت‌های بسیار بالا باشد، کاربرد دارد.

شایان ذکر است که این طرح در آزمایشگاه تحقیقاتی نانوفوتونیک و اپتوالکترونیک دانشگاه شهید رجایی انجام شده‌است و در حال حاضر مجموعه‌ی آزمایشگاهی این سامانه در حال راه‌اندازی است.


منبع: کائسنا 

پنج‌شنبه 10 تیر‌ماه سال 1389 :: 11:52 ق.ظ ::  نویسنده : محمدرضا گرامی


AID مخفف Redundant Array of Independent Disks به معنی آرایه‌ پشتیبان دیسک‌‌های مستقل است. البته معنی لغتی آن در انگلیسی، یورش است. این مفهوم بار اول در سال 1987، توسط تیمی سه نفره در دانشگاه کالیفرنیا البته با نام آرایه دیسک‌‌های پشتیبان ارزان Inexpensive به جای(Independent) مطرح شد. در سال‌‌های بعد سازندگان سخت‌افزار آن را به صورت امروزی در آوردند تا توقع قیمت ارزان را از فناوری RAID برطرف کنند.


امروزه کاربرد RAID گسترش بییشتری نسبت به معنای آن یافته و فناوری خاصی را تحت پوشش قرار می‌دهد که قابلیت تقسیم و کپی اطلاعات را بین چندین دیسک دارد.

کلمه دیسک مطرح شد و یادم آمد که استفاده کنونی این کلمه هم از معنای لغوی این کلمه فراتر رفته است. دیسک به معنای دایره یا هر صفحه گرد است.

تا مدت‌‌ها این نام با مسمی بود، زیرا ‌هارددیسک، دیسک فشرده و فلاپی دیسک هر سه دارای صفحات گرد برای ذخیره اطلاعات بودند و دیسک درون آن‌‌ها منبع ذخیره اطلاعات بود. اما امروزه در SSD‌ها و فلش دیسک‌‌ها، دیگر اثری از صفحات گرد نیستند و این کلمه مفهومی متفاوت نسبت به معنای لغوی آن پیدا کرده است.

در مورد RAID هم همین موضوع صدق می‌کند. مفهوم این کلمه گسترده‌تر از معنای لغوی کلمات تشکیل دهنده این مخفف است. این فناوری می‌تواند برای افزایش امنیت ذخیره داده و یا افزایش کارآیی خواندن از و نوشتن روی دیسک‌‌ها به کار برود.



ادامه مطلب ...
پنج‌شنبه 10 تیر‌ماه سال 1389 :: 11:30 ق.ظ ::  نویسنده : محمدرضا گرامی

دومین استاندارد ملی در حوزه فناوری نانو با عنوان "آئین کار سلامت و ایمنی در محیط های کار با نانومواد" از سوی کمیته استانداردسازی فناوری نانو تدوین و منتشر شد.

به گزارش کائسنا به نقل ار خبرنگار مهر، کمیته استانداردسازی فناوری نانو ایران (ISIRI/TC229) با انجام کارهای مطالعاتی و تحقیقاتی و با استفاده از استانداردهای منتشر شده ISO، ASTM و NIOSH این استاندارد را تهیه و تدوین کرده است.
هدف از تدوین استاندارد "آئین کار سلامت و ایمنی در محیط های کار با نانومواد" ارائه راهنمایی هایی است که بتواند به ایجاد کنترل های اختصاصی و در نتیجه حفظ سلامتی و ایمنی کارکنان و محیط زیست در محیط های کاری نانو کمک کند.

این استاندارد در کلیه محیط های کاری نانو کاربرد دارد و می تواند توسط مدیران، متخصصان و کارکنان این محیط ها با هدف ایجاد محیط کار سالم، حفظ سلامت کارکنان، آموزش کارکنان، تهیه آئین نامه های کار اختصاصی و تهیه تجهیزات و امکانات ایمنی مورد نیاز به کار گرفته شود.

استاندارد "آئین کار سلامت و ایمنی در محیط‌های کار با نانومواد" در دویست و چهل و دومین اجلاس کمیته ملی میکروبیولوژی به عنوان استاندارد ملی ایران به تصویب سازمان استاندارد و تحقیقات صنعتی ایران رسید.
جمعه 4 تیر‌ماه سال 1389 :: 10:03 ب.ظ ::  نویسنده : محمدرضا گرامی
while the word Internet has been one of the most important computer terms in recent history, there has not been another term as attractive as “cloud computing.” Today, this term could be representing the next biggest trend in the information technology industry. This article will explain some of the basic ideas behind the cloud computing phenomena—a concept that might change the way we understand the computing process.


ادامه مطلب ...
آمار وبلاگ
  • تعداد بازدیدکنندگان: 727358

Free PageRank Checker
 
 
تمامی حقوق این وبلاگ محفوظ است |طراحی : پیچک
 

فروشگاه اینترنتی ایران آرنا